Postup měření
Měření provádějte při ohřívání nebo ochlazování termostatu, podle toho, jaká je teplota
termostatu na počátku. První měření proveďte pro tuto teplotu.
Zapněte TESTER DIOD, termostat a osciloskop (pokud nejsou zapnuty)
Otevřete kryt termostatu a připojte měřenou součástku, kryt uzavřete.
Odečtěte teplotu termostatu, nastavte napětí na kondenzátoru TESTERU DIOD asi na 200 V.
Osciloskop přepněte do XY režimu s pamětí, citlivost kanálu X nastavte asi na 0,5 V/dílek, citlivost Y na 0,5V/dílek.
V případě, že měřená součástka je tyristor, zapněte zdroj přídržného proudu a tyristor zapněte zkratem
mezi anodou a hradlem. Tlačítkem START spusťte měřicí impulz. Zkontrolujte dosažení požadované
hodnoty ID. V případě, že měření nevyhovuje, opravte nastavení napětí a měření proveďte znova.
Při opakování měření opakujte i proces zapnutí tyristoru.
Obrázek z osciloskopu zapište na disketu jako soubor BMP nebo TIF.
Osciloskop nastavte do časového režimu se spouštěnou časovou základnou (NORMAL).
Synchronizaci nastavte pro napěťový kanál Y a nízkou úroveň napětí, časovou základnu nastavte asi
na 5ms/dílek, bod synchronizace do levé poloviny obrazovky. Citlivosti jsou stejné jako při předchozím
měření. Osciloskop nastavte do režimu SINGLE. Tlačítkem START spusťte měřicí impulz a po zobrazení
průběhů se osciloskop zablokuje (STOP).
Data z osciloskopu zapište na disketu jako soubor CSV. Zkontrolujte správnost obou zápisů na PC.
Otevřete kryt termostatu a připojte další měřenou součástku, kryt uzavřete a postupujte jako u první
součástky.
Po změření všech součástek změňte nastavení termostatu (rozdíl teplot cca 20 °C). Teplotu kontrolujte
kontaktním teploměrem. Vyčkejte, až termostat dosáhne žádané teploty, nečekejte na úplné ustálení a proveďte měření pro další teplotu.
Stanovení prahového napětí UTO a dynamického odporu rT
proveďte podle následujícího obrázku.
Ztrátový výkon určete pro jednofázový usměrňovač s odporovou zátěží, použijte následující rovnici:
Katalogové listy součástek
Diodové a tyristorové moduly ČKD řady MDD, MTT
Typické průběhy měřených veličin
křivka 1: U (snímání 1:1), křivka 2: I (snímací rezistor 1mOhm)
charakteristika v režimu XY